Gaya APA
Barrett, JIm, Williams, Geoff. (2001).
Test your own aptitude: ujilah bakat profesional anda (Edisi kedua).
Jakarta:
Erlangga.
Gaya Chicago
Barrett, JIm, Williams, Geoff.
Test your own aptitude: ujilah bakat profesional anda.
Edisi kedua
Jakarta:
Erlangga,
2001.
Text.
Gaya MLA
Barrett, JIm, Williams, Geoff.
Test your own aptitude: ujilah bakat profesional anda.
Edisi kedua
Jakarta:
Erlangga,
2001.
Text.
Gaya Turabian
Barrett, JIm, Williams, Geoff.
Test your own aptitude: ujilah bakat profesional anda.
Edisi kedua
Jakarta:
Erlangga,
2001.
Print.